X荧光镀层测厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。

X-Strata980X荧光测厚仪这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

膜厚测试仪美国博曼微型XRF镀层测厚仪微型XRF采用多毛细管光学机构，将X射线束聚焦到7.5μmFWHM，是目前世界上使用XRF技术进行镀层厚度分析的最小光斑尺寸。150倍放大相机用于观察样品上的细微特征;同时配有低倍数相机，用于观察样品的宏观成像。博曼的双摄像头系统可让操作人员看到整个样品，点击图像，通过高倍放大相机进行放大，实现测量点的精确定位和测量。

美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪利用X射线照射产品样品，样品的不同元素发出不同能量大小的二次X射线荧光，仪器分析荧光的波长和能量大小从而无损计算出镀层的厚度。

美国博曼BA100毛细管（100-O-OPT80）镀层测厚仪美国原装进口，由美国Kalpha公司研制，于2016年发布，采用zui前沿的微小斑点多导毛细管技术，配合大窗口的SDD探测器，实现对极小斑点的测量，高能量的X射线光束，可实现快速、zui高精度的测量。同样的传导距离，可产生比准直器类测厚仪强百倍的信号强度，其测量精度趋于完美，是一种完全颠覆准直器类测厚仪的无损镀层测厚仪。

BA100毛细管X射线测厚仪专业生产厂家优秀的测试性能、突出的微区测量能力，BowmanBA100Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

美国博曼BA100毛细管光学X射线测厚仪批发价格机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应zui严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

博曼XRF荧光镀层测厚仪BA100-G-S是原CMI900升级产品，是一款全新的智能化机型；可提供高精度、快速简便的测量和分析镀层厚度。该款仪器X射线系统可提供对13元吕元素到92号铀元素进行高精度测量分析。

鼎极手持式X荧光测厚仪现货供应是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。

牛津仪器X-Strata980X荧光镀层测厚仪够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。

超大功率X射线荧光测厚仪配有超大功率X射线光管和高灵敏度探测器，能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求、有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。该款仪器性能卓越，能够分析包括多层复杂涂镀层、SAC合金、µPPF和太阳能电池板等复杂应用。

超大样品舱X荧光测厚仪这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。